- Киев+380960830922
Вы здесь
Введите ключевые слова для поиска диссертаций:
Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
Тип работы:
кандидатская
Год:
2002
Количество страниц:
172
Артикул:
138595 179 грн
Рекомендуемые диссертации
- Синтез, структура, свойства оксидных гетероструктур анодных пленок, сенсоры на их основе
- Роль поверхностных фаз в формировании межфазовых границ на кремнии
- Капиллярная турбулентность на поверхности жидкого водорода
- Вихревые структуры и токовое состояние в сверхпроводниках с планарными дефектами и гетероструктурах ферромагнетик - сверхпроводник II рода
- Фазовые превращения в субмикрообъемах твердых тел при циклическом микро- и наноиндентировании
- Явление \"огранения - потери огранки\" границ зерен в цинке и их смачивание твердой фазой и расплавом
- Ориентационные эффекты при каналировании ионов в кристаллах
- Термоэлектрические свойства и электронное строение тугоплавких соединений переходных элементов
- Объемные характеристики сплавов Pd-Si и взаимосвязь их строения и свойств в кристаллическом, жидком и аморфном состояниях
- Когерентные явления в полупроводниковых квантовых проволоках