Ви є тут

Интерпретация данных рентгеновской и нейтронной рефлектометрии тонких пленок с применением глобальной минимизации

Автор: 

Самойленко Иван Иванович

Тип роботи: 

Кандидатская

Рік: 

1999

Артикул:

1000221282

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Взаємодія електромагнітного випромінювання з багатошаровими наночастинками та нанопокриттями: прямі і обернені задачі
• Методы просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения для анализа наноструктуры биоматериалов
• Прецизионные структурные исследования, тепловые колебания атомов и физические свойства кристаллов
• Устойчивость системы кристалл-расплав в условиях различных модификаций метода Чохральского
• Синтез, структуроутворення та фотокаталітичні властивості нанокристалічного титану(IV) оксиду, допованого сіркою
• Вопросы теории упругости квазикристаллов
• Синтез, структура та електрохімічні властивості оксидних наноматеріалів
• Синтез, структуроутворення та фотокаталітичні властивості нанокристалічного титану(IV) оксиду, допованого сіркою
• Влияние рельефа подложек лейкосапфира на процессы роста эпитаксиальных пленок теллурида кадмия и частиц золота
• Сегнетоэластические свойства монокристаллов ортоарсената свинца