Разработка неразрушающего СВЧ метода и устройства контроля неоднородностей электрофизических параметров магнитодиэлектрических покрытий металлов

Содержание
Введение.
1 Литературный обзор и постановка задачи исследования
1.1 Современное состояние вопроса измерения электрофизических, концентрационных и геометрических параметров твердых гиромагнитных материалов, выбор частотного диапазона
1.2 Обзор существующих неразрушающих методов контроля магнитодиэлектрических жидких и твердых материалов
1.2.1 Амплитуднофазовые методы на отражение
1.2.2 Средства дефектоскопии
1.2.3 Средства структуроскопии
1.2.4 Средства контроля физикомеханических параметров
1.3 Микроволновые методы поверхностных волн измерения толщины, электрофизических параметров и их неоднородностей магнитодиэлектрических покрытий на металле.
1.4 Постановка задачи разработки радиоволнового метода контроля электрофизических и геометрических параметров и их неоднородностей магнитодиэлектрических материалов.
1.5 Выводы по разделу 1
2 Распространение плоской электромагнитной волны в системе магнитодиэлектрикпроводник.
2.1 Математическое описание распространения поверхностной медленной электромагнитной волны в системе магнитодиэлектрикпроводник.
2.2. Схема реализации метода измерения Ь,б,и,2в,Кф и интроскопии пвм.
2.3 Диапазоны одномодовости Е и Нмод.
2.4 Основная мода электромагнитной волны электрического ти
па распространяющейся в системе магнитодиэлектрикпроводник
2.5 Аппроксимация аналитической модели и ее оценка.
2.6 Выводы по разделу 2
3 Методы и алгоритмы определения, оценки и визуализации
неоднородностей электрофизических параметров магнитодиэлектрических покрытий на металлической подложке
3.1 Алгоритмы измерения толщины и электрофизических параметров магнитодиэлектрических покрытий
3.2 Основной алгоритм определения и локализации неоднородностей магнитодиэлектрических покрытий.
3.3 Алгоритм визуализации неоднородностей по пространственному распределению дисперсии коэффициента нормального затухания Ху поля поверхностной медленной волны микроволновая интроскопия поверхностной медленной волны
3.4 Методы фрактального анализа неотражающих и поглощающих покрытий
3.5 Определение электрофизических параметров радиопоглощающих покрытий с учетом стохастической фрактальной шероховатости..
3.6 Разработка круговой синфазной внутренней апертуры для реализации предложенного метода определения электрофизических параметров и оценки их неоднородностей
3.6.1 Внешние излучатели
3.6.2. Круговые синфазные внутренние апертуры
3.6.3 Аппаратная реализация разработанной апертурноизмерительной системы.
3.7 Выводы по разделу 3
4Экспериментальная оценка метода определения электрофизических и геометрических параметров магнитодиэлектрических покрытий и их неоднородностей, метрологический анализ.
4.1 Экспериментальная оценка метода определения и
его метрологический анализ. Методика вычисления коэффициента ослабления.
4.2 Базовая структура поля.
4.3 Экспериментальные данные.
4.4 Метрологическое обеспечение и выводы по метрологическим свойствам метода определения электрофизических параметров и неоднородностей покрытий.
4.5 Оценка погрешности измерений метода определения М,р,гв.
4.6 Оценка погрешности определения диэлектрической, магнитной проницаемостей и толщины покрытий.
4.7 Оценка погрешности определения волнового сопротивления
4.8 Погрешность определения диссипативных величин
4.9 Проверка адекватности математической модели
4. Выводы по разделу 4.
Заключение.
Список используемых источников