- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Високороздільна Х-променева дифрактометрія структурних порушень у приповерхневих шарах Si та кристалічних з'єднань CdHgTe, YLaFeO після іонної імплантації
Тип роботи:
Дис. канд. наук
Рік:
2009
Артикул:
0409U005410 129 грн
Рекомендовані дисертації
- Процеси структуроутворення в тонких плівках та монокристалах фулериту С60.
- Структура, фазовий склад та механічні властивості покриттів на основі системи титан-вуглець
- Cтруктура молекулярних ароматичних стекол, твердотільні метастабільні стани і поліморфізм
- Кінетика формування нанокомпозитних плівок Si-SiOx та їх світловипромінюючі характеристики
- Особливості переносу заряду в низьковимірних гетероструктурах на основі сполук A3В5
- Розмірні ефекти полярних та діелектричних властивостей сегнетоелектричних наноматеріалів
- Пружні деформації при релаксації фототермічного збудження у кристалах з різним ступенем п'єзоелектричних властивостей.
- Фазові стани і спектри зв'язаних магнітопружних хвиль негейзенбергівських магнетиків
- Структура та властивості композитів на основі гексабориду лантану, отриманих спрямованою кристалізацією
- Механізми радіаційних пошкоджень поверхневих шарів твердих тіл при бомбардуванні іонами інертних газів та водню