- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для исследования электрофизических свойств материалов наноэлектроники и структур на их основе
Тип роботи:
диссертация кандидата физико-математических наук
Рік:
2008
Артикул:
5663 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Реальная и доменная структура SBN с примесями металлов Ce, Cr, Eu и Rh
- Динамика начальной стадии проникновения магнитного поля в высокотемпературные сверхпроводники
- Влияние дефектов структуры на спин-решеточную релаксацию ионов Nd3+ в иттрий-алюминиевом гранате и центров облучения в кварцевом стекле
- Кинетические явления в макроскопически неоднородных и анизотропных средах. диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07
- Спектр уровней прочности и долговечности полимеров
- Микроволновая спектроскопия магнитоплазменных возбуждений в двумерных электронных и дырочных структурах
- Моделирование напряженно-деформированного состояния на интерфейсе поверхностный слой - подложка стохастическими методами клеточных автоматов на основе термодинамического подхода
- Теоретическое исследование влияния дефектов на структуру и свойства монослоя гексагонального нитрида бора
- Влияние постоянного и переменного электрических полей на магнитный резонанс в магнитоупорядоченных веществах
- Структура и динамика высокоспиновых парамагнитных дефектов в диэлектрических кристаллах