- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Рентгеновская микроскопия на основе кристаллов с переменным периодом решетки
Тип роботи:
диссертация кандидата физико-математических наук
Рік:
2006
Кількість сторінок:
124
Артикул:
5979 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Физические основы и практическое применение лазерной пайки металла с керамикой
- Электронные свойства полупроводников с областями нарушений
- Теория магнитоиндуцированных явлений в сегнетоэлектриках типа смещения
- Исследования физических процессов в люминофорах при воздействии на них излучений безэлектродных высокочастотных разрядов в парортутных средах с целью создания высокоэффективных световых приборов
- Моделирование напряженно-деформированного состояния на интерфейсе поверхностный слой - подложка стохастическими методами клеточных автоматов на основе термодинамического подхода
- Оптические свойства и электронная структура эпитаксиальных пленок дисилицидов Cr и Fe на Si(111)
- Динамика неравновесных структур в интервале стеклования оксидных стекол по данным метода рассеяния света
- Влияние упругой и магнитоупругой деформации на атомное упорядочение сплавов типа СuАu
- Проблемы теории взаимодействующих квазичастиц в квантовых кристаллах
- Влияние легирования на электронную структуру сверхпроводящих соединений типа А15 на основе ванадия