Электронная микроскопия бикристаллов и пленок на бикристаллических и ступенчатых подложках

ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ
1.1. Обзор теоретических приемов описания границ зерен
1.2. Экспериментальные методики, используемые для получения и исследования границ зерен
1.3. Обработка изображений и количественная электронная
1.4. Исследования ВТСП пленок на бикристаллических и
ступенчатых подложках
1.5. Применение пленок и исследование их роста на различных подложках методом электронной микроскопии
ГЛАВА 2. МЕТОДИКИ ИССЛЕДОВАНИЯ
2.1. Приготовление образцов для электронной микроскопии.
2.2. Просвечивающая электронная микроскопия
2.3. Аналитическая электронная микроскопия
2.4. Обработка и расчет изображений
ГЛАВА 3. ИССЛЕДОВАНИЕ ИСКУССТВЕННЫХ ГРАНИЦ В БИКРИСТАЛЛАХ У СТАБИЛИЗИРОВАННОГО гЮ2
3.1. Результаты моделирования изображений структуры УЕЮ2 для различных микроскопов
3.2. Исследование несимметричных границ в бикристаллах
угю2 чншниииии миоммшинчмиштмжиич
3.3. Исследование симметричных границ в бикристаллах У2гО2
3.4. Выводы
ГЛАВА 4. ИССЛЕДОВАНИЕ БИКРИСТАЛЛОВ УСТАБИЛИЗИРОВАННОГО ЕЮ2 С ПРОСЛОЙКАМИ РАЗЛИЧНЫХ МАТЕРИАЛОВ
4.1. Бикристаллы УгЮ2 с прослойкой УзБеО
4.2. Бикристаллы с внутренними пленками БгТЮ3 и
8гТ3УзКе
4.3. Бикристаллы У2г с внутренними пленками оксида железа .
4.4. Микроструктура кристаллов УгЮо с внутренними пленками Се и БгПОз
4.5. Структура внутренних пленок и ЕпОУЕЮ2 в бикристаллах УХЮ2 .
4.6. Выводы
ГЛАВА 5. СТРУКТУРА ПЛЕНОК гпО, ВЫРАЩЕННЫХ НА БИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПОДЛОЖКАХ угю2 И
ПЛЕНОК ТВа2СаСи2Оа, ВЫРАЩЕННЫХ НА СТУПЕНЧАТЫХ ПОДЛОЖКАХ ЬаА3,
5.1. Структура пленок 2пО, выращенных на бикристаллических подложках УгЮ2
5.2. Структура ТВа2СаСи8 пленок, выращенных на 1 ступенчатых подложках ЬаАЮз
5.3. Выводы Нммм1ым1мм1м1мм1м1м1ммж1мм1мнннм1нм1мтим1н1нннт1имимиитимм
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ