Вы здесь

Дослідження структури кристалів з великою густиною планарних дефектів методом повнопрофільного аналізу дифрактограм

Автор: 
Бударіна Наталія Миколаївна
Тип работы: 
Дис. канд. наук
Год: 
2003
Артикул:
0403U002005
129 грн
Добавить в корзину