Ви є тут

Фликкер-шумовая спектроскопия в параметризации структуры поверхности твёрдофазных систем в нанометровом диапазоне на основе данных атомно-силовой микроскопии

Автор: 

Мисуркин Павел Игоревич

Тип роботи: 

Кандидатская

Рік: 

2012

Артикул:

1005480120

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Влияние термической и импульсной фотонной обработки на упругие и неупругие свойства аморфных металлических сплавов на основе железа
• Структура магнитного потока в материалах со сверхпроводящим и магнитным упорядочением
• Формирование границы раздела при послойном росте Cr, Co и Fe на Si(111)
• Эффекты ангармонизма и резонансное взаимодействие колебаний различных порядков в спектрах молекулярных кристаллов
• Методы определения параметров граничной диффузии. Теория и экспериментальная практика
• Роль электронной структуры в статическом отклике и электронном рассеянии на поверхности металла
• ЭДС в полупроводниковых структурах при фоторазогреве носителей заряда
• Проводимость двумерных систем при переходе от слабой к сильной локализации
• Электрон-дырочные комплексы в квантовых ямах и в квантовых проволоках
• Генерация и детектирование терагерцового излучения в полупроводниках и квантоворазмерных полупроводниковых структурах