- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Количественный анализ атомной структуры поверхностных фаз с помощью сканирующей туннельной микроскопии
Тип роботи:
диссертация кандидата физико-математических наук
Рік:
2006
Кількість сторінок:
166
Артикул:
6109 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Динамика поляризации кристаллов с электрическими диполь-дипольными взаимодействиями в присутствии сильных электрических и акустических полей
- Спектроскопические проявления электрон-фононного взаимодействия в полупроводниковых гетероструктурах A III B V с пониженной размерностью
- Решеточные модели лиотропного жидкокристаллического упорядочения
- Получение монокристаллов активированного сапфира Al2 O3
- Скоростной рост моносекториальных профилированных кристаллов группы KDP
- Влияние внешнего электрического поля на распространение упругих волн в пьезоэлектрических пластинах и слоистых структурах
- Проблема соотношения упругих констант в слабоангармонических металлах
- Формирование границы раздела при послойном росте Cr, Co и Fe на Si(111)
- Исследование физических свойств компенсированного марганцем кремния и структур на его основе
- Закономерности пластической деформации ГПУ-сплавов циркония на различных структурно-масштабных уровнях