- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Комплексное исследование полупроводниковых соединений Cu2-xS с использованием метода ЯКР 63,65Cu
Тип роботи:
диссертация кандидата физико-математических наук
Рік:
2007
Кількість сторінок:
118
Артикул:
7272 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Исследование особенностей проявления дисперсионных сил в наноразмерных слоистых структурах на основе кремния
- Исследование свойств и оптимизация гетероструктур на подложках GaAs и разработка мощных лазеров на их основе: ? =0,78 - 1,3 мкм
- Фотоэлектрические свойства гетероструктур с самоформирующимися наноостровками GeSi/Si
- Полупроводниковые микроструктуры на основе соединений AIIIBV, полученные методом реактивного ионного травления
- Влияние физико-химической модификации покровного слоя на морфологию и фотоэлектронные спектры квантовых точек InAs/GaAs, выращенных газофазной эпитаксией
- Закономерности оптических и колебательных спектров твердых растворов Ti1-xCuxInS2(0X0,015)
- Оптические исследования тонких пленок молекулярных органических полупроводников фталоцианинового ряда
- Электрофизика пористого кремния и структур на его основе
- Магнитоупругая динамика марганец - цинковых ферритов в области спиновой переориентации
- Ізовалентно заміщені борати літію і барію: синтез, структурні особливості та фізичні властивості