- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Разработка объективных методов контроля качества изображения в микроскопе
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2010
Кількість сторінок:
157
Артикул:
243423 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Разработка и исследование методов и средств метрологического обеспечения пространственных спектральных измерений локальных световых полей
- Підвищення ефективності оптико-електронних систем дистанційного зондування
- Разработка и исследование лазерно-электронной системы измерения энергетических световозвращательных характеристик оптико-электронных приборов
- Разработка рентгеновского микроанализатора для анализа легких элементов
- Оптико-электронные датчики на базе позиционно-чувствительных полупроводниковых фотоприемников : высокоточные весы, измерители угловой скорости
- Приборные системы и методы люминесцентного анализа следовых концентраций токсикантов в окружающей среде
- Технологические процессы изготовления точных градиентных и асферических оптических элементов
- Исследование и разработка оптико-электронных систем с планарной оптической равносигнальной зоной для контроля и управления пространственным положением объектов
- Дифракционные решетки нового поколения
- Быстродействующие оптико-электронные развертывающие поляриметры