Методы и средства исследования радиационных эффектов в интегральных схемах запоминающих устройств с использованием локального воздействия

Введение
Диссертация направлена на решение важной научнотехнической задачи по оценке,, прогнозированию и обеспечению радиационной стойкости интегральных схем оперативных запоминающих устройств ОЗУ при воздействии ионизирующих излучений ИИ искусственного и естественного происхождений, имеющей существенное значение для построения высоконадежных электронных устройств систем управления военного, космического и другого специального назначения, улучшения.их функциональных и эксплуатационных характеристик.
Актуальность