- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2002
Кількість сторінок:
172
Артикул:
138595 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Структурно-фазовые превращения в поверхностных слоях Cu, Ni, Mo под действием однократных электрических разрядов
- Диффузия никеля в поликристаллическом кобальте, намагниченном внешним постоянным магнитным полем
- Короткоживущие радиационные дефекты во фторидах щелочных и щелочноземельных металлов
- Особенности локальных магнитных и валентных состояний ионов железа в перовскитоподобных соединениях системы Bi1-xSrxFeO3 при x = 0 + 1
- Магнитно-структурные явления в гидридах гексагональных фаз Лавеса
- Состояния переходных элементов в фосфидах галлия и индия
- Локальная динамика парамагнитных центров таллия в кристаллах группы ?-K2 SO4
- Влияние текстуры деформации и отжига на анизотропию физико-механических свойств некоторых металлов и сплавов с кубической решеткой
- Исследование акустопластического эффекта в монокристаллах на ультразвуковых частотах
- Взаимосвязь электрических и магнитных свойств в сильно коррелированных электронных системах оксидов и халькогенидов переходных металлов.