- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Исследование структурных и электрофизических характеристик пленок на основе ?-Si:H, полученных в плазме НЧ разряда
Тип роботи:
Кандидатская
Рік:
2005
Артикул:
452747 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Электрооптические свойства несимметричных жидкокристаллических микролинз
- Влияние микро- и наноструктурирования на оптические свойства кремниевых слоев
- Спонтанное формирование полупроводниковых наноструктур
- Диэлектрические свойства стекол в системах M-As(Sb)-S-I
- Коллективные явления в проводимости квазиодномерных (пайерлсовских) и квазидвумерных сверхпроводящих кристаллов
- Оболочки с двумерным электронным газом и их магнитотранспортные свойства
- Явления электронного переноса при низких температурах
- Длинноволновые фоторезисторы на основе полупроводниковых ?-легированных сверхрешеток и ИК матрицы с большим временем накопления фотосигнала
- Фотолюминесцентная спектроскопия полупроводниковых наноструктур с планарно-неоднородными слоями
- Перестраиваемые ИК-лазеры на основе InAs и его твердых растворов