- Киев+380960830922
Вы здесь
Введите ключевые слова для поиска диссертаций:
Исследование структурных и электрофизических характеристик пленок на основе ?-Si:H, полученных в плазме НЧ разряда
Тип работы:
Кандидатская
Год:
2005
Артикул:
452747 179 грн
Рекомендуемые диссертации
- Спектроскопия колебательных состояний низкоразмерных полупроводниковых систем
- Наноразмерные структуры Si/SiO2 и сенсоры на их основе
- Емкостная спектроскопия электронных состояний в гетероструктурах с квантовыми ямами и квантовыми точками
- Стеклообразование и электропроводность в халькогенидных системах
- Влияние разогрева электронно-дырочной плазмы на электрические свойства германия
- Рекомбинация и спиновая релаксация экситонов в полупроводниковых гетероструктурах первого рода с непрямой запрещенной зоной
- Исследование физических процессов в многослойных полупроводниковых структурах, выключаемых током управления
- Туннельные явления в напряженных вюртцитных гетероструктурах с сильными встроенными полями
- Электронные, оптические и механические свойства кристаллов Ga1-x(Inx, Alx)Se, GaSe1-x(Sx, Tex) нелинейной оптики терагерцового диапазона
- Формирование низкоразмерного полупроводникового силицида магния и наногетероструктур на его основе