- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Количественный рентгеноспектральный микроанализ оксидов и халькогенидов элементов II и IV групп
Тип роботи:
Кандидатская
Рік:
1999
Артикул:
1000218055 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Исследование динамических режимов работы газовых сенсоров с целью повышения их избирательности
- Исследование магнитных явлений в легированных полупроводниках
- Влияние водорода на фотоэлектронные свойства гетероструктур с квантовыми ямами и точками GaAs/In x Ga1-x As
- Влияние глубоких центров на задержку лавинного пробоя p-n - перехода
- Полупроводниковые квантово-размерные гетероструктуры на основе широкозонных соединений A2 B6
- Кинетические коэффициенты прыжкового переноса и плотность электронных состояний в неупорядоченных системах с сильной локализацией носителей заряда
- Влияние германия на кинетику образования низкотемпературных термодоноров и на начальные стадии процесса распада пересыщенного твердого раствора кислорода в кремнии
- Дефекты и проводимость ионно-имплантированного аморфного кремния
- Разработка методики и изучение ультраакустических свойств расплавов полуметаллов и полупроводников
- Электродинамика слоистых полупроводниковых структур для квантовых каскадных лазеров