Ви є тут

Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОП технологии электрофизическими методами

Автор: 

Орешков Максим Викторович

Тип роботи: 

Кандидатская

Рік: 

2012

Артикул:

1005475360

179 грн

Додати в кошик

• 
• 
• 

Рекомендовані дисертації

• Исследование электрофизических свойств двухкомпонентной слоистой структуры, состоящей из жидких органических веществ
• Структура и поверхностная проводимость металлических и металл-фуллереновых систем на реконструированных поверхностях Si(111)
• Фізичні властивості твердих розчинів із стехіометричними вакансіями на основі сульфіду та селеніду ртуті
• Исследование гетероструктур в системе In-Ga-As-P и разработка на их основе перестраиваемого одномодового гетеролазера и мощного суперлюминесцентного диода : λ = 1.3-1.55 мкм
• Оптика центров, обязанных присутствию кислорода и меди в соединениях A2 B6 (На примере ZnSe)
• Молекулярно-пучковая эпитаксия гибридных гетероструктур A^2 B^6/InAs для лазеров среднего ИК-диапазона
• Оптическая и магнитооптическая спектроскопия ZnSe и низкоразмерных гетеросистем на его основе
• Формирование и свойства трехмерных GaAs/InGaAs наноструктур : Нанотрубок, спиралей и мембран с туннельными переходами
• Исследование фосфида индия, арсенида галлия и их твердых растворов методами фото- и электроотражения
• Оптические и структурные свойства квантовых точек (In, Ga, Al)As на подложках арсенида галлия для светоизлучающих приборов диапазона 1.3-1.55 мкм