- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Особенности структуры ионоимплантированных слоев кремния, выявленные с помощью рентгеновской дифрактометрии высокого разрешения
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2003
Кількість сторінок:
136
Артикул:
136560 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Электродинамика слоистых полупроводниковых структур для квантовых каскадных лазеров
- Нелинейные транспортные эффекты в селективно легированных гетероэпитаксиальных микроструктурах металл-полупроводник
- Исследование возможности использования тонкопленочных монолитных слоистых структур для создания устройств обработки широкополосных сигналов и мониторинга окружающей среды
- Атомная и электронная структура поверхности и фазообразование в многослойных композициях на основе кремния
- Изучение кинетических процессов в твердых растворах полупроводников А3В5 численными методами
- Получение и исследование пленок твердых растворов халькогенидных стеклообразных полупроводников (As2 S3)x . (As2 Se3 )1-x на рулонной основе для оптоэлектронных устройств записи информации
- Светоизлучающие приборы на основе квантовых точек InGaN: технология эпитаксиального выращивания и исследование свойств
- Ширина линии экситона и его интегральное поглощение в твердых растворах AlxGa1-xAs
- Электрические и газочувствительные характеристики полупроводниковых сенсоров на основе тонких пленок SnO2
- Моделирование электрических и оптических характеристик светоизлучающих диодов на основе многокомпонентных гетероструктур AlGaInN