- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Особенности структуры ионоимплантированных слоев кремния, выявленные с помощью рентгеновской дифрактометрии высокого разрешения
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2003
Кількість сторінок:
136
Артикул:
136560 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Теплопроводность халькогенидов свинца и твердых растворов на основе PbTe
- Особенности оптических свойств сильно легированного GaAs:Te в условиях коррелированного распределения примеси
- Исследование структуры частиц веществ наноразмерной дисперсности
- Исследование процессов генерации и вывода света в светодиодах на основе гетероструктур AllnGaN
- Моделирование и исследование фоточувствительных полупроводниковых приборов с N-образными вольт-амперными характеристиками
- Термоэлектрические свойства гетерофазных структур
- Лазерная спектроскопия неравновесных процессов в полупроводниковых квантовых нитях и точках
- Особенности распределения заряженных центров в области пространственного заряда оптоэлектронных структур при их формировании, термополевых и радиационных воздействиях
- Исследование процессов переноса заряда в p-n переходах, изготовленных на основе CdHgTe (X?0.22) и их изменений при механическом и температурном воздействиях
- Взаимозависимость оптических свойств, кристаллической структуры и состава кристаллов CdS(O) : с привлечением теории непересекающихся зон