- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2002
Кількість сторінок:
172
Артикул:
138595 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Исследование структурно-фазовых изменений сплавов на основе железа при воздействии импульсных ионных и электронных пучков
- Методика одновременного учёта взаимодействий разной симметрии в примесных трёхвалентных редкоземельных ионах в кристаллах
- О влиянии симметрии электронного спектра на свойства сверхпроводников в рамках многозонных моделей
- Влияние фазового перехода в сверхтонких пленках жидких кристаллов на электрофизические и оптические свойства
- Особенности свойств микронеоднородных сплавов PdMn_x Fe_1-x с взаимодействующими структурными и магнитными параметрами порядка
- Неравновесные электронно-дырочные процессы в кристаллических диэлектриках с ионным типом связи
- Влияние малых добавок стронция и бария на поверхностные свойства и кинетику контактного плавления олова с висмутом, свинцом и алюминием
- Механизмы деформации и разрушения ферритно-мартенситной стали ЭК-181
- Локализация, резонансы и нелинейные аномалии в твердотельных структурах
- Процессы переноса излучения в планарных и цилиндрических композиционных структурах на основе пространственных градиентных сред