- Киев+380960830922
Вы здесь
Введите ключевые слова для поиска диссертаций:
Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
Тип работы:
кандидатская
Год:
2002
Количество страниц:
172
Артикул:
138595 179 грн
Рекомендуемые диссертации
- Неравновесные ансамбли дислокаций в границах зерен и их роль в свойствах поликристаллов
- Куперовское спаривание электронов во внешних переменных полях
- Структурные, оптические и электронные свойства многокомпонентных халькогенидов металлов групп I и III для тонкопленочных фотопреобразователей солнечной энергии
- Электронная энергетическая структура соединений AIIIBV, AIVBIV и твёрдых растворов на их основе
- Особенности электронного строения кристаллов соединений S, d и f элементов с зарядовым и орбитальным упорядочениями
- Моделирование гетеропереходов на основе магнитного полупроводника монооксида европия
- Фазовые и структурные превращения в диамагнитных материалах после воздействия слабых магнитных полей
- Динамика решетки и колебательные спектры кристаллов Hg_2 Hal_2 (Hal=Cl, Br, I)
- Низко- и инфранизкочастотные диэлектрические свойства сегнетоэлектрических твердых растворов типа xPZN-(1-x)PSN и (1-x)Pb(Ti,Zr)O3-xBi(Sr,Ti)O3
- Экспериментальное исследование взаимодействий полимеров с фуллереном С60