- Київ+380960830922
Ви є тут
Введіть ключові слова для пошуку дисертацій:
Определение шероховатости подложек и тонких пленок по рассеянию рентгеновских лучей в условиях внешнего отражения
Тип роботи:
кандидатская
Рік:
2003
Кількість сторінок:
126
Артикул:
140204 179 грн
Рекомендовані дисертації
- Феноменологическая теория фазовых переходов под давлением в элементах таблицы Менделеева и простых соединениях
- Особенности свойств магнитоэлектрических композитов Cox(LiNbO3)100-x,Cox(PbZrTiO3)100-x и (x)NiZnFe2O4-(1-x)PbZrTiO3
- Оптические свойства и электронная структура нитридов группы А3 В5
- Внутрицентровая люминесценция ионов Mn2+ в твердых растворах AiiBvi и гетероструктурах на их основе
- Электромеханические эффекты в высокотемпературных сверхпроводниках
- Термодинамика и кинетика взаимодействия гемоглобина с кислородом
- Влияние поверхностно-активных веществ на синтез наночастиц гидроксида железа
- Цикл исследований и разработок экстремальных процессов получения тугоплавких боридов и материалов на их основе
- Аналитическое исследование термостимулированных токов деполяризации в кристаллах с водородными связями при низких температурах
- Кинетические явления в кристаллах HgSe, содержащих примеси железа со смешанной валентностью