- Киев+380960830922
Вы здесь
Введите ключевые слова для поиска диссертаций:
Определение шероховатости подложек и тонких пленок по рассеянию рентгеновских лучей в условиях внешнего отражения
Тип работы:
кандидатская
Год:
2003
Количество страниц:
126
Артикул:
140204 179 грн
Рекомендуемые диссертации
- Термоэдс редкоземельных соединений с сильными электронными корреляциями
- Влияние граничных условий на образование и поведение политипных структур в рамках аксиальной модели изинга
- Кинетика коалесценции в твердых растворах : роль различных механизмов роста зерна
- Электростимулированная диффузия ионов в ВТСП-материалах на основе иттрия и висмута и природа токонесущего состояния в сверхпроводниках d-типа
- Доменные и релаксационные процессы в гетерогенных сегнетоактивных системах
- Оптические свойства неоднородно нагретых кристаллов, методы исследования оптических неоднородностей кристаллов KDP и флюоритовых фаз M1-xRxF2+x (M - Ca, Ba R-редкоземельные элементы)
- Сегнетоэластические свойства и структурная неустойчивость высокотемпературных металлоксидных сверхпроводников
- Динамика кубических кристаллов в модели Ван-дер-Ваальсовских связей
- Получение токонесущих 2212 BSCCO структур в объемных и многожильных длинномерных изделиях из исходного метастабильного состояния
- Топологические свойства и симметрия сверхпроводящего параметра порядка при кулоновском спаривании с большим импульсом